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互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究
刘智; 翟林培; 郝志航
2007-01-10
发表期刊中国激光
ISSN0258-7025
期号1
摘要通过图像处理方法,用软件的方式(亚像元细分)对目标进行定位是一个可有效提高测量精度的途径。主要对互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器亚像元细分精度的测试方法和测试结果进行研讨。利用压电陶瓷(PZT)精密快扫振镜(FSM)和基于互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的数字相机构建了实验系统,对该互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的亚像元细分精度进行了实验研究。结果表明,OV7620的质心定位精度达到0.17pixel,即能够实现六细分,互补金属氧化物半导体图像传感器具有实现亚像元细分的能力,能够应用于以光斑质心检测为手段的测量系统中。
关键词成像系统 互补金属氧化物半导体图像传感器 亚像元细分 细分精度 填充率
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24250
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
刘智,翟林培,郝志航. 互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究[J]. 中国激光,2007(1).
APA 刘智,翟林培,&郝志航.(2007).互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究.中国激光(1).
MLA 刘智,et al."互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究".中国激光 .1(2007).
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