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俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响
殷景志; 时宝; 李龙海; 王一丁; 杜国同; 缪国庆; 宋航; 蒋红; 金亿鑫
2006-04-30
发表期刊半导体光电
ISSN1001-5868
期号2
摘要通过对InGaAs材料的俄歇(Auger)复合机制的理论分析,给出了少子寿命与材料组分、温度和载流子浓度的关系,从而得到材料参数等对InGaAs探测器的探测率影响的结果,优化材料参数和器件结构可抑制Auger复合机制,提高InGaAs探测器的探测率。
关键词Ingaas探测器 探测率 Auger复合
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24179
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
殷景志,时宝,李龙海,等. 俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响[J]. 半导体光电,2006(2).
APA 殷景志.,时宝.,李龙海.,王一丁.,杜国同.,...&金亿鑫.(2006).俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响.半导体光电(2).
MLA 殷景志,et al."俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响".半导体光电 .2(2006).
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