Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 液晶测试信号源的设计与实现 | |
李拥军; 于涛 ; 侯文卓; 孙铁铮
| |
| 2006-02-28 | |
| 发表期刊 | 液晶与显示
 |
| ISSN | 1007-2780 |
| 期号 | 1 |
| 摘要 | 根据目前TFT模块的生产现状和需求,依据TFT模块的驱动和测试原理,以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因,设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源,该信号源可提供GateOdd,GateEven,Data,Vgg和Vcom5路信号,此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4·6cm(1.8in),128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,且测试效果良好。 |
| 关键词 | Tft模块 驱动信号 点缺陷 线缺陷 Cpld 模拟开关 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24150 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李拥军,于涛,侯文卓,等. 液晶测试信号源的设计与实现[J]. 液晶与显示,2006(1). |
| APA | 李拥军,于涛,侯文卓,&孙铁铮.(2006).液晶测试信号源的设计与实现.液晶与显示(1). |
| MLA | 李拥军,et al."液晶测试信号源的设计与实现".液晶与显示 .1(2006). |
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