空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术

	空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术
	王淑荣
	2007-09-15
发表期刊	光学精密工程
期号	9
摘要	从理论上分析了ICCD光电响应非均匀性的产生机理,并由此建立光电响应数学模型。基于两点多段非均匀性校正算法给出了ICCD非均匀性校正方程,并通过大量实验得到ICCD在特定条件下的校正系数。在实验过程中发现IC-CD的雪花点(主要由探测器的随机噪声引起)和盲点是影响非均匀性改善的主要因素,采取相应照度的响应进行了补偿。结果表明:通过补偿和校正输出图像,可以有效地减小紫外成像仪由探测器的非均匀性所带来的测量误差,使非均匀性降低了37.1%,在一定程度上减少了由于ICCD的物理特性和制造缺陷所带来的固有图像噪声。
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23963
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	王淑荣. 空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术[J]. 光学精密工程,2007(9).
APA	王淑荣.(2007).空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术.光学精密工程(9).
MLA	王淑荣."空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术".光学精密工程 .9(2007).