Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究 | |
闫丰 | |
2009-05-03 | |
发表期刊 | 光谱学与光谱分析 |
ISSN | 1000-0593 |
卷号 | 5期号:29页码:1371 |
摘要 | 光谱响应度是探测器的重要技术参数之一,随着紫外探测技术的发展,精确测量紫外探测器的光谱响应度变得越来越重要。文章分析了紫外ICCD(UV-ICCD)相对光谱响应度的测量原理,采用了直接比较法测定待测探测器的相对光谱响应度,并基于具有优异紫外响应能力的科研级光谱仪建立了UV-ICCD光谱响应的测量装置。实验获取了UV-ICCD的相对光谱响应度曲线,从曲线中可以看出,UV-ICCD光谱响应范围为220~300nm,峰值响应在270nm附近,表明该器件具有日盲特性。不确定度分析结果显示,UV-ICCD相对光谱响应度测量的最大不确定度约为7.79%,满足测量要求。 |
收录类别 | SCI ; EI |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23735 |
专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 闫丰. 紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究[J]. 光谱学与光谱分析,2009,5(29):1371. |
APA | 闫丰.(2009).紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究.光谱学与光谱分析,5(29),1371. |
MLA | 闫丰."紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究".光谱学与光谱分析 5.29(2009):1371. |
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