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紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究
闫丰
2009-05-03
发表期刊光谱学与光谱分析
ISSN1000-0593
卷号5期号:29页码:1371
摘要光谱响应度是探测器的重要技术参数之一,随着紫外探测技术的发展,精确测量紫外探测器的光谱响应度变得越来越重要。文章分析了紫外ICCD(UV-ICCD)相对光谱响应度的测量原理,采用了直接比较法测定待测探测器的相对光谱响应度,并基于具有优异紫外响应能力的科研级光谱仪建立了UV-ICCD光谱响应的测量装置。实验获取了UV-ICCD的相对光谱响应度曲线,从曲线中可以看出,UV-ICCD光谱响应范围为220~300nm,峰值响应在270nm附近,表明该器件具有日盲特性。不确定度分析结果显示,UV-ICCD相对光谱响应度测量的最大不确定度约为7.79%,满足测量要求。
收录类别SCI ; EI
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23735
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
闫丰. 紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究[J]. 光谱学与光谱分析,2009,5(29):1371.
APA 闫丰.(2009).紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究.光谱学与光谱分析,5(29),1371.
MLA 闫丰."紫外ICCD相对光谱响应度测量技术研究".光谱学与光谱分析 5.29(2009):1371.
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