Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响 | |
陈波
| |
| 2008-03-02 | |
| 发表期刊 | 物理学报
 |
| 期号 | 3 |
| 摘要 | 利用透射电子显微镜(TEM)详细分析了不同剂量的质子辐照纯铝薄膜样品的微观结构,质子的能量E=160keV.实验表明,质子辐照能够在Al薄膜中诱发空位位错圈,在实验范围内,位错密度随辐照剂量的增加而增加;质子辐照在1×1011—4×1011/mm2范围内随辐照剂量的增加,位错圈数量密度以及位错圈尺寸都随之增加.在较高剂量6×1011/mm2辐照下,位错圈数量密度减小,但其尺寸显著增加,空位倾向于形成较大的空位簇缺陷,且样品中出现胞状结构,胞壁之间有角度很小的取向差,这种胞状结构与材料力学性能的退化关系密切. |
| 收录类别 | SCI ; EI |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23727 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈波. 质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响[J]. 物理学报,2008(3). |
| APA | 陈波.(2008).质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响.物理学报(3). |
| MLA | 陈波."质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响".物理学报 .3(2008). |
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| 质子辐照对纯铝薄膜微观结构的影响.caj（101KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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