115_180nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证

	115_180nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证
	于磊; 林冠宇; 曲艺; 王淑荣
	2010-12-20
发表期刊	光谱学与光谱分析
ISSN	1000-0593
卷号	30 期号:12
摘要	115～180nm远紫外临边成像光谱仪原理样机是针对电离层探测而开发的预研空间光谱仪器。由于远紫外波段的特殊性,仪器所能接收到的信号非常微弱,因此灵敏度和信噪比就成为了衡量性能的重要指标。该文根据信号统计检测理论,在阈值理论的基础上,提出了计算这种仪器的灵敏度和信噪比的方法。首先分析了接收信号和系统噪声的概率分布,然后引入探测概率和虚警概率因子,从而推导出仪器的灵敏度与信噪比的计算表达式。根据灵敏度计算和电离层中探测粒子辐射波长的亮度范围,可知仪器的灵敏度能够满足探测需求。之后对仪器的信噪比进行了理论计算,并建立了相关的实验系统进行验证,结果表明,由该方法计算出的结果和实验结果之间的误差在允许范围内,因此是合理的。
收录类别	EI ; SCI
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23678
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	于磊,林冠宇,曲艺,等. 115_180nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证[J]. 光谱学与光谱分析,2010,30(12).
APA	于磊,林冠宇,曲艺,&王淑荣.(2010).115_180nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证.光谱学与光谱分析,30(12).
MLA	于磊,et al."115_180nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证".光谱学与光谱分析 30.12(2010).

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