Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 微通道板在12_40nm波段的量子效率测量 | |
尼启良
| |
| 2008-01-03 | |
| 发表期刊 | 光学精密工程
 |
| 期号 | 1 |
| 摘要 | 提出了一种测量微通道板(MCP)量子效率的方法。该方法选用激光等离子体光源作为极紫外辐射源,使用传递标准探测器—硅光电二极管标定光源强度,用标定后的光照射待测MCP,采用直接测量电压来间接测量探测器输出电流,再计算出MCP量子效率。实验结果表明,在12~40nm,MCP量子效率为2%~12.3%,量子效率随波长的增大呈下降趋势。测量与误差分析表明,导致MCP量子效率测量结果变化的主要因素是光源稳定性和机械转动精度。通过与计数方式测量结果比较,进一步验证了本测量方法的正确性。 |
| 收录类别 | EI |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23125 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 尼启良. 微通道板在12_40nm波段的量子效率测量[J]. 光学精密工程,2008(1). |
| APA | 尼启良.(2008).微通道板在12_40nm波段的量子效率测量.光学精密工程(1). |
| MLA | 尼启良."微通道板在12_40nm波段的量子效率测量".光学精密工程 .1(2008). |
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| 微通道板在12_40nm波段的量子效率测（410KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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