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新型单元的频率选择表面
高劲松; 冯晓国
2008-11-01
发表期刊光学精密工程
期号11
摘要通过对传统的十字单元进行改进,设计了一种新型单元的频率选择表面(FSS)。利用模式匹配法,从理论上对比分析了传统十字单元FSS和这种新型单元FSS,研究了TE波入射时角度变化和大角度入射时极化方式变化对中心频率的影响,并采用镀膜和光刻技术制备了新型单元FSS的实验样件。在微波暗室中进行了测试,得到的实验曲线与理论仿真曲线基本一致。结果表明,传统十字单元FSS不能实现中心频率的角度稳定性,TE波0°~45°的中心频率漂移为300MHz,并且45°入射时中心频率的极化稳定性很差,漂移量为800MHz;而新型单元FSS具有中心频率的角度稳定性,TE波0°~45°的入射中心频率漂移量仅为100MHz,同时对大的入射角度具有中心频率的极化稳定性。
收录类别EI
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/23059
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
高劲松,冯晓国. 新型单元的频率选择表面[J]. 光学精密工程,2008(11).
APA 高劲松,&冯晓国.(2008).新型单元的频率选择表面.光学精密工程(11).
MLA 高劲松,et al."新型单元的频率选择表面".光学精密工程 .11(2008).
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