Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形 | |
乔彦峰; 韩旭东
| |
| 2006-08-15 | |
| 发表期刊 | 光学技术
 |
| ISSN | 1002-1582 |
| 卷号 | 增刊期号:32页码:323 |
| 摘要 | 在较高精度面形测量的光学方法中,很多测量范围都受到光波波长的限制。简述了一种利用光栅投影系统来增强其垂直方向测量范围的新方法。通过投影仪来产生能够消除表面低频变化影响的变形光栅,测量该栅线经过被检面的变形图像,通过处理得到表面的高频信息,然后将高频和低频信息叠加得到表面轮廓图。通过实验模型的建立证明,该方法具有测量精度范围宽,能实时地得到表面轮廓图。 |
| 收录类别 | EI |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22950 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 乔彦峰,韩旭东. 基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形[J]. 光学技术,2006,增刊(32):323. |
| APA | 乔彦峰,&韩旭东.(2006).基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形.光学技术,增刊(32),323. |
| MLA | 乔彦峰,et al."基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形".光学技术 增刊.32(2006):323. |
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