X_射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS_Mn薄膜屏中Mn含量

	X_射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS_Mn薄膜屏中Mn含量
	任新光
	2008-10-02
发表期刊	液晶与显示
期号	5
摘要	提出一种X-射线衍射(XRD)与火焰原子吸收法(FAAS)联合测定ZnS∶Mn交流电致发光(ACEL)薄膜中Mn含量的新方法。首先用XRD测定ZnS薄膜的结构,判断薄膜是否符合它的化学式量,在符合化学式量基础上,再用FAAS分别测定Zn与Mn的质量分数,最终确定Mn在ZnS薄膜中的含量。与单独采用FAAS测定相比较,测定结果的相对误差,相对标准偏差相同。但是,该方法具有样品处理简单,分析周期短,所需样品量少等优点。不仅可以提供Mn在ZnS薄膜中的含量与构成质量,同时也可以对ZnS∶Mn交流电致发光膜薄的浓度分布以及均匀度提供客观的评价指标,以利于镀膜工艺中各参数指标的改善。
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22871
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	任新光. X_射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS_Mn薄膜屏中Mn含量[J]. 液晶与显示,2008(5).
APA	任新光.(2008).X_射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS_Mn薄膜屏中Mn含量.液晶与显示(5).
MLA	任新光."X_射线衍射与火焰原子吸收法联合测定ZnS_Mn薄膜屏中Mn含量".液晶与显示 .5(2008).