CIOMP OpenIR  > 中科院长春光机所知识产出
通过提高生长温度改善碳化锗薄膜的性能
胡超权; 王笑夷; 陈红; 朱嘉琦; 韩杰才; 郑伟涛
2010-08-15
发表期刊液晶与显示
ISSN1007-2780
期号4
摘要利用磁控溅射制备碳化锗(Ge1-xCx)薄膜,系统地研究了生长温度(Tg)对所获薄膜成分及性能的影响并揭示了它们之间的内在关系。研究发现所有Ge1-xCx薄膜样品均为非晶结构,随着Tg从60℃增加到500℃,膜中锗含量增加,而碳含量相对降低,这种成分的改变增加了膜中组成原子的平均质量,进而导致薄膜折射率从2.3增加到4.3,这种折射率大范围连续可调的特性十分有利于Ge1-xCx多层红外增透保护膜的设计和制备。此外研究还发现,随着Tg的增加,Ge1-xCx膜中Ge—H和C—H键逐渐减少,这不但显著减小了薄膜在~5.3μm和~3.4μm处的光吸收,而且显著提高了薄膜的硬度。这些结果表明,提高生长温度是调制Ge1-xCx薄膜成分、改善其光学和力学性能的有效途径。
关键词生长温度 碳化锗 性能
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22740
专题中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
胡超权,王笑夷,陈红,等. 通过提高生长温度改善碳化锗薄膜的性能[J]. 液晶与显示,2010(4).
APA 胡超权,王笑夷,陈红,朱嘉琦,韩杰才,&郑伟涛.(2010).通过提高生长温度改善碳化锗薄膜的性能.液晶与显示(4).
MLA 胡超权,et al."通过提高生长温度改善碳化锗薄膜的性能".液晶与显示 .4(2010).
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