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目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响
贺庚贤; 胡剑虹; 宁飞; 沈湘衡
2010-04-20
发表期刊中国光学与应用光学
ISSN1674-2915
卷号3期号:2页码:152-156
摘要介绍了红外热像仪测温原理,分析了影响红外热像仪测温精度的因素,计算了不同表面发射率下红外热像仪的测温误差曲线。理论分析表明,目标表面发射率越高,红外热像仪测温精度越高。实验改变表面发射率的设置,计算了不同表面发射率对应的总辐射亮度,得到TP8型长波红外热像仪能够精确测温时,目标表面发射率必须大于0.5的结果。最后,对表面发射率分别为0.96、0.93和0.3的3种材料进行实际测温,结果表明,材料表面发射率较高时,红外热像仪具有较好的测温精度。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22602
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
贺庚贤,胡剑虹,宁飞,等. 目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响[J]. 中国光学与应用光学,2010,3(2):152-156.
APA 贺庚贤,胡剑虹,宁飞,&沈湘衡.(2010).目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响.中国光学与应用光学,3(2),152-156.
MLA 贺庚贤,et al."目标表面发射率对红外热像仪测温精度的影响".中国光学与应用光学 3.2(2010):152-156.
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