Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 光电成像系统的像面覆盖方法分析 | |
| 翟林培; 丁亚林 | |
| 2009-06-22 | |
| 发表期刊 | 光电技术应用
 |
| ISSN | 1763-1255 |
| 卷号 | 3期号:30页码:448 |
| 摘要 | 为了实现延时积分电荷耦合器件(TDI-CCD)在光电成像系统中的有效应用,在对现有光电成像系统像面覆盖方法分析的基础上,基于TDI-CCD的时间延时积分功能,提出了一种新的像面覆盖方法,并从理论上对新的像面覆盖方法进行了分析。通过与现有方法的对比,分析了新方法的特点,说明了该方法的可用性和实用性。 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22120 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 翟林培,丁亚林. 光电成像系统的像面覆盖方法分析[J]. 光电技术应用,2009,3(30):448. |
| APA | 翟林培,&丁亚林.(2009).光电成像系统的像面覆盖方法分析.光电技术应用,3(30),448. |
| MLA | 翟林培,et al."光电成像系统的像面覆盖方法分析".光电技术应用 3.30(2009):448. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 光电成像系统的像面覆盖方法分析.caj（314KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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