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用电化学方法消除4J32镜头组件的杂散光
姜伟; 张云琨; 张忠玉; 任明文
2008-08-15
发表期刊光学精密工程
ISSN1004-924X
期号8
摘要研究了采用电化学方法消除精密光学系统4J32合金镜头组件中杂散光的实验。利用正交实验法在重铬酸盐体系中确定了主盐浓度,并研究了电压、电解液温度、时间等因素对镜头组件的消杂散光性能和消光膜层质量的影响,确定了最佳工艺为重铬酸钾:20g/L、硫酸锰:20g/L、硫酸铵:20g/L、添加剂15g/L,温度:25~35℃,3V/min升压速率处理20~30min。经最佳工艺处理后,4J32合金呈黑色,反射率<1.5%、耐蚀性为240s、膜层附着力为7.9N、尺寸变化<0.8μm。结果表明,所得到的消光膜能够满足精密光学系统对零件尺寸精度及表面消光膜层的质量要求。
关键词4j32合金 精密光学系统 电化学方法 杂散光
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/21739
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
姜伟,张云琨,张忠玉,等. 用电化学方法消除4J32镜头组件的杂散光[J]. 光学精密工程,2008(8).
APA 姜伟,张云琨,张忠玉,&任明文.(2008).用电化学方法消除4J32镜头组件的杂散光.光学精密工程(8).
MLA 姜伟,et al."用电化学方法消除4J32镜头组件的杂散光".光学精密工程 .8(2008).
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