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PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量
冯志庆; 王淑荣; 王晓君; 狄卫华; 李福田
2008-01-15
发表期刊光学精密工程
ISSN1004-924X
期号1
摘要在自行研制的测试仪器的基础上,用增加激发光总量检测和荧光粉表面漫反射光检测,两者相减获得绝对吸收的方法改善荧光粉在120~300nm紫外-真空波段的相对量子效率测量精度。总量检测通过一块漫反射板标定实现,给出了标定和测量过程。改进后相对量子效率测量误差减小到1%以内,同时利用该方法获得了较为精细的激发光谱曲线,光谱分辨率达到1nm。对BaMgAl10O17:Eu蓝色荧光粉和LaPO4:Tb、LaPO4:CeTb以及YPO4:Tb三种绿色荧光粉激发光谱进行了测量。
关键词平板等离子体显示 荧光粉 相对亮度 Vuv激发光谱
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/21431
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
冯志庆,王淑荣,王晓君,等. PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量[J]. 光学精密工程,2008(1).
APA 冯志庆,王淑荣,王晓君,狄卫华,&李福田.(2008).PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量.光学精密工程(1).
MLA 冯志庆,et al."PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量".光学精密工程 .1(2008).
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