一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置 (发明)

	一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置 (发明)
	刘世界; 何玲平; 王晓光; 陈波
	2012-08-01
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置，该装置用于真空室内的航天材料样品进行空间环境模拟辐照后，不改变材料样品状态及真空环境，直接对材料样品进行光学透射率，反射率及漫反射率测量，该装置包括光源部分和样品室部分，光源部分包括第一反射镜组件、钨灯组件、第一透镜组件、氘灯组件、第二透镜组件、调制扇组件、单色仪、光……
资助项目	102621107A
申请号	201210061742.6
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12248
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	刘世界,何玲平,王晓光,等. 一种用于航天材料空间环境辐照测量的原位光学测量装置 (发明)[P]. 2012-08-01.