中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	一种多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统 (发明)
	余达; 臧佳; 赵莹; 孔德柱; 吕世良; 刘金国; 郭永飞
	2012-06-13
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	一种多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统，涉及多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统，它解决现有面阵ＣＣＤ在温度循环和功率老化筛选测试时，存在面阵ＣＣＤ连续工作、试验周期较长的问题，本系统在摄像期间将各片面阵ＣＣＤ图像数据以每四片为单位进行图像数据的整合，使输入的数据通道数降为原来的芯片数的１／４，再并行存储到ＳＤＲＡＭ阵列，摄像结束后……
资助项目	102497575A
申请号	201110409076.6
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12123
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	余达,臧佳,赵莹,等. 一种多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统 (发明)[P]. 2012-06-13.

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CN201210249757500000（540KB）			开放获取	--	浏览 下载

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