中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	固体颗粒样品的取样装置 (发明)
	朴仁官; 许家林
	2012-01-04
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	固体颗粒样品的取样装置涉及固体颗粒成分检测领域，该装置包括样品盒（１）、漏斗（２）、出样盒（３）、入口挡板（４）、挡板控制机构、转轮（５）、步进电机（９）和回收盒（１４），样品盒（１）设有前玻璃窗口（６）和后玻璃窗口（７），漏斗（２）安装在样品盒（１）的入口处，入口挡板（４）位于样品盒（１）入口的底部，挡板控制机构与入……
资助项目	102305725A
申请号	201110128435.0
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12014
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	朴仁官,许家林. 固体颗粒样品的取样装置 (发明)[P]. 2012-01-04.

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CN201210230572500000（234KB）			开放获取	--	浏览 下载

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