中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	一种凹面光栅衍射效率的测试方法 (发明)
	巴音贺希格; 寇婕婷; 吴娜; 于宏柱; 唐玉国; 齐向东
	2012-04-11
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-04-11
专利类型	发明专利
摘要	一种凹面光栅衍射效率测试方法，属于光谱技术领域中涉及的一种光栅衍射效率测试方法。要解决的技术问题是：提供一种凹面光栅衍射效率测试方法。解决技术问题的技术方案是：包括步骤一，配备一套可进行凹面光栅衍射效率测量的装置和测量控制系统；步骤二，准备被测凹面光栅和标准凹面反射镜；步骤三，测量标准凹面反射镜的反射光通量；步骤四，测……
资助项目	101957257B
申请号	201010277313.3
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11830
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	巴音贺希格,寇婕婷,吴娜,等. 一种凹面光栅衍射效率的测试方法 (发明)[P]. 2012-04-11.

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CN201110195725700000（594KB）			开放获取	--	浏览 下载

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