Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种自动测量电接口静态特性的方法 (发明) | |
| 贺庚贤; 宁飞; 蔚素升; 胡剑虹 | |
| 2012-06-13 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2012-06-13 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 一种自动测量电接口静态特性的方法，属于电子测量技术领域中涉及的一种方法。要解决的技术问题是：提供一种自动测量电接口静态特性的方法。解决的技术方案是：首先，建立自动测量系统；包括计算机，ＰＣＩｅ接口卡，处理器，多路复用开关，电连接器，终端模块，万用表卡，转接线路板，扁平电缆连接器和测量连接器；该测量系统通过测量电缆与被测…… |
| 资助项目 | 101738540B |
| 申请号 | 200910217805.0 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11702 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺庚贤,宁飞,蔚素升,等. 一种自动测量电接口静态特性的方法 (发明)[P]. 2012-06-13. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201010173854000000（211KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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