一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法 (发明)

	一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法 (发明)
	贺庚贤
	2004-10-06
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2004-10-06
专利类型	发明专利
摘要	一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法，属于光电检测技术领域中的一种光电耦合器件（以下称ＣＣＤ）成像边缘检测的计算方法，是通过对ＣＣＤ成像器件输出的模拟量转换成数字量并对其进行微分计算，找出微分信号的上波峰和下波峰，将波峰看成是一种星点能量信号，应用星的像心计算公式：Ｘｃ＝∑ＸｉＲｉ／∑Ｒｉ，将微分数值代入该公式中，计算……
资助项目	1170250
申请号	1119490.1
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11336
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	贺庚贤. 一种光电耦合器件成像边缘检测计算方法 (发明)[P]. 2004-10-06.