Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 半导体激光器光、电特性综合测量方法 (发明) | |
宁永强 ; 刘云; 王立军; 朱万彬; 李丽娜; 刘星元
| |
| 2002-08-21 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 本发明涉及一种对半导体激光器光－电特性测试装置及方法的改进。为了解决上述技术结构相对复杂，测量时间长等问题，本发明使取样电阻与待测半导体激光器并联，待测半导体激光器的激光准直平行后经过分光，分别进入到光二极管和探测器其光强信号及光谱信号进入计算机，经过程序处理后即测量得到所需的半导体激光器各参数，则完成半导体激光器光、…… |
| 资助项目 | 1365005 |
| 申请号 | 1124618.9 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11195 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 宁永强,刘云,王立军,等. 半导体激光器光、电特性综合测量方法 (发明)[P]. 2002-08-21. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN200200136500500000（201KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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