一种光路可伸缩的CCD器件光电参数测试装置 (发明)

	一种光路可伸缩的CCD器件光电参数测试装置 (发明)
	任建伟; 马冬梅
	2005-01-05
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2005-01-05
专利类型	发明专利
摘要	一种光路可伸缩的ＣＣＤ器件光电参数测试装置，属于光电测试技术领域中的一种对ＣＣＤ器件光电参数进行检测的装置。本发明要解决的技术问题是：被测ＣＣＤ器件的平面能获得均匀的照射面且有足够的辐射能量，辐射照度应能连续可调，光路上尽量减小或消除杂光辐射。技术方案是采用光路折转结构，入射光线经过两块反射棱镜反射，将光线行进方向折转……
资助项目	1183379
申请号	1133401.0
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11175
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	任建伟,马冬梅. 一种光路可伸缩的CCD器件光电参数测试装置 (发明)[P]. 2005-01-05.