中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	一种杂光测试仪 (发明)
	谷立山; 王立朋; 张晓辉
	2009-08-12
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2009-08-12
专利类型	发明专利
摘要	本发明涉及一种杂光测试仪，该杂光测试仪包括积分球，光源，目标板，可变光栏，探测器，调整架，四维移动机构；探测器可以在四维移动机构上作三维（Ｘ、Ｙ、Ｚ）方向平移，并且在水平方向可绕Ｙ轴旋转的。本发明即可以对像面照度进行均匀性测试，又可以实现像面是平面的和球面的光学系统杂光系数的测试。
资助项目	100526829
申请号	200710056151.9
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11162
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	谷立山,王立朋,张晓辉. 一种杂光测试仪 (发明)[P]. 2009-08-12.

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CN200810114475000000（253KB）			开放获取	--	浏览 下载

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