中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法 (发明)
	李宏升; 禹秉熙
	2005-03-23
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	本发明涉及光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法，光栅光谱仪器高级次叠加光谱的计算分离方法：首先测量基于光栅和光谱仪器结构的异级光谱信号比γ↓［２／１］（λ↓［ｉ］）；再将短波一级光谱信号数据插值，得到插值短波一级光谱信号Ｉ↓［１］（λ↓［ｉ］）；将异级光谱信号比γ↓［２／１］（λ↓［ｉ］）和插值短波一级光谱信号Ｉ↓［１……
资助项目	1598504
申请号	200410011064.8
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11150
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	李宏升,禹秉熙. 光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法 (发明)[P]. 2005-03-23.

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CN200500159850400000（528KB）			开放获取	--	浏览 下载

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