对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法 (发明)

	对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法 (发明)
	方伟; 王玉鹏; 禹秉熙; 姚海顺
	2008-10-22
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2008-10-22
专利类型	发明专利
摘要	本发明涉及对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法。关闭快门，在接收器件的第一电加热丝和参考器件的第二电加热丝分别加入电功率Ｐｅ↓［１］，使接收器件和参考器件的温度始终相同并恒定；打开快门，当有光入射绝对辐射计，使第一电加热丝所加电功率由Ｐｅ↓［１］减少到Ｐｅ↓［２］，使温度传感器电路输出数值与关闭快门时温度传……
资助项目	100427903
申请号	200510016667.1
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11125
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	方伟,王玉鹏,禹秉熙,等. 对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法 (发明)[P]. 2008-10-22.