Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种综合测量液晶器件参数的装置及方法 (发明) | |
黄锡珉; 马凯; 于涛 ; 王宗凯; 邵喜斌; 夏丽娜; 张春林; 凌志华; 马仁祥; 荆海
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| 2004-08-25 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2004-08-25 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 本发明涉及一种对测量液晶器件参数装置及方法的改进。它包括光源、起偏器、样品、转台、补偿器、检偏器、镜头、探测器、计算机和液晶驱动装置。根据液晶折射率和指向矢分布，用理论值和测量值迭代拟合得到液晶层厚度、预倾角和扭曲角。本发明打破现有技术只能偏振光测量、只能非偏振光测量、只能单色光测量、只能白光测量和入射角单一的局限，扩…… |
| 资助项目 | 1163737 |
| 申请号 | 110180.3 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11090 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄锡珉,马凯,于涛,等. 一种综合测量液晶器件参数的装置及方法 (发明)[P]. 2004-08-25. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN200100131246600000（225KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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