Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种动态测量导轨直线度的方法 (发明) | |
| 刘大禹; 高飞 | |
| 2010-06-02 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2010-06-02 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 一种动态测量导轨直线度的方法，属于光电测量技术领域中涉及的一种方法。要解决的技术问题是，提供一种动态测量导轨直线度的方法。解决的技术方案为：一、要配备一台光学测量平台；二、将被检组件置于平台左半部，直线电机组件带动装在镜架上的平面反射镜与滑块同步沿导轨移动；三、自准直仪放置在被检组件右侧，与被测组件对接，平面反射镜反射…… |
| 资助项目 | 101329170B |
| 申请号 | 200810051009.X |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11081 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘大禹,高飞. 一种动态测量导轨直线度的方法 (发明)[P]. 2010-06-02. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN200810132917000000（356KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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