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一种动态测量导轨直线度的方法 (发明)
刘大禹; 高飞
2010-06-02
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2010-06-02
专利类型发明专利
摘要一种动态测量导轨直线度的方法,属于光电测量技术领域中涉及的一种方法。要解决的技术问题是,提供一种动态测量导轨直线度的方法。解决的技术方案为:一、要配备一台光学测量平台;二、将被检组件置于平台左半部,直线电机组件带动装在镜架上的平面反射镜与滑块同步沿导轨移动;三、自准直仪放置在被检组件右侧,与被测组件对接,平面反射镜反射……
资助项目101329170B
申请号200810051009.X
文献类型专利
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11081
专题中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
刘大禹,高飞. 一种动态测量导轨直线度的方法 (发明)[P]. 2010-06-02.
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