中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	物体三维角度变形的自准直干涉测量系统 (发明)
	乔彦峰; 李向荣; 李清安; 郭平平; 张尧禹
	2007-01-17
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2007-01-17
专利类型	发明专利
摘要	本发明属于光电测量技术领域，涉及一种自准直干涉测量系统。包括：第一光源１、光阑２、第一分光棱镜３、第二分光棱镜４、第三分光棱镜５、物镜组６、反射镜７、ＣＣＤ探测器８、第二光源９、自准光栅１０、瞄准光栅１１、ＣＣＤ探测器１２。本发明提出一种基于自准直干涉原理测量物体三维角度变形的新方法，解决背景技术不能测量三维角度变形的……
资助项目	1295483
申请号	200410010856.3
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11074
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	乔彦峰,李向荣,李清安,等. 物体三维角度变形的自准直干涉测量系统 (发明)[P]. 2007-01-17.

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CN200500157055400000（287KB）			开放获取	--	浏览 下载

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